Invia.cz
Eurovíkendy
Kanárské ostrovy
Dominikánská republika
Madeira
Last minute
Vydělávejte peníze s INVIA.CZ
Média CD-RW (Compact Disk ReWritable) mají všechny vlastnosti jako CD-R, navíc však umožňují smazání jejich obsahu a nahrání nového. Počet takových přepisů (rewrite) se uvádí kolem 1000. Na rozdíl od CD a CD-R má toto médium v sobě chemickou vrstvu, která může být v amorfní nebo krystalické struktuře. Amorfní struktura rozptyluje světelný paprsek laseru, kdežto krystalická struktura ho propouští. Zápis neboli změna struktury citlivé vrstvy se provádí zvýšenou intenzitou laserového paprsku, čímž se vrstva lokálně zahřeje a roztaví. Pokud je toto záření stálé, pak se vytvoří krystalická struktura. Pokud je však střídavé, pak se vytvoří amorfní struktura.
Obsah |
Chemická vrstva umožnující laserový záznam digitálních informací se v dnešní době skládá především ze sloučenin:
Detekce probíhá na základě rozdílné odrazivosti krystalické a amorfní vrstvy (odrazivost krystalické vrstvy je přibližně o 10% vyšší než u amorfní vrstvy). Potřebný výkon laseru pro úspěšnou detekci se pohybuje kolem destin mW
Zápis je realizován krátkým pulsem o vysokém výkonu (řádově desítky mW) kdy v chemické vrstvě dojde k roztavení a následnému chladnutí aktivní vrstvy za vzniku amorfní struktury.
Mazání z těchto médii je realizováno delším pulsem o nižším výkonu (řádově jednotky mW) než u zápisu. Tak nedochází k úplnému roztavení vrstvy, která by se při chladnutí transformovala do amorfní struktury, ale pouze k zahřátí nad teplotu krystalizace při níž dochází k rekrystalizaci vrstvy -> smazání záznamu.
[1] T. D. Milster in: Th. G. Brown, K. Creath, H. Kogelnik, M. A. Kriss, J. Schmit, M. J. Weber (eds.), The Optics Encyclopedia – Basic Fundations and Practical Applications Volume 1, Wiley-VCH, Weinheim, Germany (2004), p. 227 – 274.
[2] M. Wuttig in: R. Waser (ed.), Nanoelectronics and Information Technology, Advanced Electronic Materials and Novel Devices, Wiley VCH, Weinheim, Germany (2003), p. 645 – 658.
[3] M. Wuttig, Nat. Mater., 4 (4) (2005) p. 265 – 266.
[4] H. J. Borg, R. van Woudenberg, J. Magn. Mag. Mater. 193 (1 3) (1999) p. 519 – 525.
[5] G. F. Zhou, Mater. Sci.Eng.A – Struct. Mater. Prop. Microstruct. Process. 304 (Spec. Iss.) (2001) p. 73 80.